Grote componenten kunnen in zijn geheel zowel worden gemeten als geïnspecteerd met de nieuwe Zeiss O-Inspect duo. Dit multifunctionele systeem combineert tactiele en optische metrologie met microscopie. Zo bestrijkt het twee belangrijke toepassingsgebieden in kwaliteitscontrole. Deze grootste industriële microscoop die Zeiss ooit heeft gehad, wordt officieel gelanceerd tijdens de Precisiebeurs in ’s-Hertogenbosch.
Kwaliteitsfunctionarissen worden vaak geconfronteerd met de nodige meet-uitdagingen; vooral als het gaat om het inspecteren van grote objecten, stelt Zeiss. Microscopen zijn vaak niet groot genoeg om dergelijke objecten in zijn geheel af te beelden.
Meten én analyseren
Het snijden van componenten kost tijd, verspilt grondstoffen maar verhoogt bovenal het risico op meetfouten.
Tevens is de aanschaf van meerdere meetsystemen kostbaar, terwijl de beschikbare ruimte in laboratoria en/of meetkamers vaak maar beperkt is.
Met de Zeiss O-Inspect duo wordt kwaliteitsborging bediend door efficiënt, snel en nauwkeurig te kunnen meten én te analyseren.
Tactiel en optisch meten
Het nieuwe multifunctionele systeem bevat zowel optische als tactiele meet-technologie.
“Met optische metingen kunnen objecten contactloos en met maximale precisie worden gemeten en geanalyseerd.
De meettijd wordt hiermee aanzienlijk verkort. Dit dankzij de nieuw ontwikkelde, regelbare ringverlichting, een groot gezichtsveld met hoge beeldscherpte en uitstekende beeldgetrouwheid; zelfs in de perifere gebieden.”
3D tactiele metingen kunnen volgens het bedrijf bijzonder snel en nauwkeurig worden uitgevoerd met de Zeiss Vast XXT sensor. “Deze sensor neemt een groot aantal meetpunten in één enkele beweging op.”
‘Geen monsters meer snijden’
Gebruiker Michael Zeller, senior manager Test Equipment
Monitoring & Measurement Technology – Zollner Elektronik AG:
“Het grote voordeel van dit gecombineerde systeem? “We hebben nu veel meer werk-
ruimte om meetobjecten te inspecteren en hoeven geen monsters meer te snijden.”
Microscopisch analyseren in kleur
Zwart-witbeelden leveren doorgaans grote contrastverschillen op. De Zeiss O-Inspect duo heeft een resolutie van 5 megapixels die zelfs de kleinste defecten zichtbaar en betrouwbaar, in kleur in beeld brengt. Dit maakt nauwkeurige analyse mogelijk.
Het nieuwe systeem is overigens ook geschikt voor geautomatiseerde inspectie van vele kleine onderdelen. Dit betekent dat de meet-microscoop maar één keer hoeft te worden geprogrammeerd. Vervolgens kan de inspectie worden uitgevoerd zonder preparaten te hoeven wisselen.
Datamanagement
Kwaliteitsfunctionarissen hoeven overigens geen nieuwe software te leren, want de Zeiss O-Inspect duo kan worden gebruikt met zowel de metrologie-software Zeiss Calypso als met de analyse-software Zeiss Zen core.
Ook communiceren beiden met Zeiss PiWeb voor een betrouwbare, duidelijke documentatie en visualisatie van alle meetgegevens.
Zo wordt het volledige potentieel van Zeiss-meetapparatuur benut en worden workflows geoptimaliseerd.
Bekijk het systeem in actie
De Zeiss O-Inspect duo beleeft de officiële Benelux-productlancering op de stand van Zeiss tijdens de Precisiebeurs, op 13 en 14 november in ’s-Hertogenbosch.
Op 14 november zal Edson Costa Santos, solution manager Materialography, namens Zeiss vertellen over hoe AI de kwaliteitsborging zal veranderen.